A Modelisation of the temperature dependence of the Fowler�Nordheim current in EEPROM memories.

• Autores: M. Roca, R. Laffont, G. Micolau, F. Lalande, O. Pizzuto
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1070-1073
• Idioma: inglés
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