A study of electrical characteristic changes in MOSFET by electron beam irradiation.

• Autores: Y. Mitsui, T. Sunaoshi, J.C. Lee
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1182-1187
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)