rication process simulation and reliability improvement of high-brightness LEDs.

• Autores: T.-L. Chou, C.-F. Huang, C.-N. Han, S.-Y. Yang, K.-N. Chiang
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1244-1249
• Idioma: inglés
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