Numerical prediction of failure paths at a roughened metal/polymer interface.

• Autores: S.P.M. Noijen, O. van der Sluis, P.H.M. Timmermans, G.Q. Zhang
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1315-1318
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)