Source electrode evolution of a low voltage power MOSFET under avalanche cycling.

• Autores: B. Bernoux, R. Escoffier, P. Jalbaud, J.M. Dorkel
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1341-1345
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)