Analysis of the dynamic behavior changes of supercapacitors during calendar life test under several voltages and temperatures conditions.

• Autores: H. El Brouji, O. Briat, J.-M. Vinassa, H. Henry, E. Woirgard
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1391-1397
• Idioma: inglés
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