Efficient DDD-Based Interpretable Symbolic Characterization of Large Analog Circuits

• Autores: Sheldon X. D. Tan, C. J. Richard Shi
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 86, Nº 12, 2003, págs. 3110-3118
• Idioma: inglés
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