A Method of Test Generation for Acyclic Sequential Circuits Using Single Stuck-at Fault Combinational ATPG

• Autores: Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 86, Nº 12, 2003, págs. 3072-3078
• Idioma: inglés
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