Defect and fault tolerance SRAM-based FPGAs by shifting the confoguration data

• Autores: Abderrahim Doumar, Hideo Ito
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 83, Nº 5, 2000, págs. 1104-1115
• Idioma: inglés
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