Periodo de publicación recogido
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Defect and fault tolerance SRAM-based FPGAs by shifting the confoguration data
Abderrahim Doumar, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 83, Nº 5, 2000, págs. 1104-1115
Fast testable design for SRAM-based FPGAs
Abderrahim Doumar, Toshiaki Ohmameuda, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 83, Nº 5, 2000, págs. 1116-1127
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