Random Modulation: Multi-Threshold-Voltage Design Methodology in Sub-2-V Power Supply CMOS

• Autores: T. Yamashita, T. Shimizu, F. Maki, K. Yano, N. Kato, Y. Akita, M. Hiraki
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 11, 2000, págs. 1747-1754
• Idioma: inglés
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