Advanced RF Characterization and Delay-Time Analysis of Short Channel AlGaN/GaN Heterojunction FETs

• Autores: Y. Okamoto, T. Nakayama, H. Miyamoto, M. Kuzuhara, T. Inoue, Y. Ando, K. Kasahara
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 10, 2003, pág. 2065
• Idioma: inglés
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