Reliability Analysis of GaN-Based LEDs for Solid State Illumination

• Autores: F. Rampazzo, E. Zanoni, A. Cavallini, M. Manfredi, G. Meneghesso, S. Levada, R. Pierobon
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 10, 2003, pág. 2032
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)