Periodo de publicación recogido
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Characterization and analysis of trap-related effects in AlGaN¿GaN HEMTs.
M. Faqir, G. Verzellesi, F. Fantini, F. Danesin, F. Rampazzo, G. Meneghesso, E. Zanoni, A. Cavallini, A. Castaldini, N. Labat, A. Touboul, C. Dua
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1639-1642
J. R. Thome, A. Cavallini, D. Del Col
Transactions of the ASME. Serie C: Journal of heat transfer, ISSN 0022-1481, Vol. 127, Nº 3, 2005, págs. 221-230
Reliability Analysis of GaN-Based LEDs for Solid State Illumination
F. Rampazzo, E. Zanoni, A. Cavallini, M. Manfredi, G. Meneghesso, S. Levada, R. Pierobon
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 10, 2003, pág. 2032
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