Improvement in Retention/Program Time Ratio of Direct Tunneling Memory (DTM) for Low Power SoC Applications

• Autores: T. Nakanishi, H. Tanaka, K. Tsunoda, A. Sato, H. Tashiro
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 4, 2005, pág. 608
• Idioma: inglés
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