Laser-SQUID Microscopy as a Novel Tool for Inspection, Monitoring and Analysis of LSI-CHip-Defects: Nondestructive and Non-electrical-contact Technique

• Autores: K. Nikawa
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 3, 2002, págs. 746-751
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)