Periodo de publicación recogido
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Laser-SQUID Microscopy as a Novel Tool for Inspection, Monitoring and Analysis of LSI-CHip-Defects: Nondestructive and Non-electrical-contact Technique
K. Nikawa
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 3, 2002, págs. 746-751
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