Circuits for CMOS High-Speed I/O in Sub-100 nm Technologies (INVITED)

• Autores: K. Kanda, K. Gotoh, H. Ishida, J. Ogawa, H. Tamura, M. Kibune, H. Yamaguchi
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 3, 2006, pág. 300
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)