Optimization of Test Accesses with a Combined BIST and External Test Scheme

• Autores: Makoto Sugihara, Hiroto Yasuura
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 84, Nº 11, 2001, págs. 2731-2738
• Idioma: inglés
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