Failure Trace Analysis of Timed Circuits for Automatic Timing Constraints Derivation

• Autores: Tomoya Kitai, Tomohiro Yoneda, Chris Myers
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 11, 2005, págs. 2555-2564
• Idioma: inglés
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