Vibration Isolation Study in Scanning Probe Microscope. Part II: High Frequency.

• Autores: A.I. Oliva, V. Sosa, M. Aguilar
• Localización: Anales de física, ISSN 1133-0376, Vol. 94, Nº. 2 (ABR-JUN), 1998, págs. 57-62
• Idioma: inglés
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