Periodo de publicación recogido
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High performance integration of scanning electron microscope and scanning tunnelling microscope
J. Revilla, E. Anguiano, N. Denisenko, M. Aguilar
Anales de física, ISSN 1133-0376, Vol. 95, Nº. 0, 2000, págs. 84-96
Vibration Isolation Study in Scanning Probe Microscope. Part II: High Frequency.
A.I. Oliva, V. Sosa, M. Aguilar
Anales de física, ISSN 1133-0376, Vol. 94, Nº. 2 (ABR-JUN), 1998, págs. 57-62
Vibration Isolaton Study in Scanning Probe Microscopy Part I: Low Frequency.
A.I. Oliva, F.J. Espinosa Faller, M. Aguilar
Anales de física, ISSN 1133-0376, Vol. 94, Nº. 1 (ENE-ABR), 1998, págs. 17-22
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