High performance integration of scanning electron microscope and scanning tunnelling microscope

• Autores: J. Revilla, E. Anguiano, N. Denisenko, M. Aguilar
• Localización: Anales de física, ISSN 1133-0376, Vol. 95, Nº. 0, 2000, págs. 84-96
• Idioma: inglés
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