Difracción rigurosa de un haz electromagnético por múltiples rendijas

• Autores: Juan Sumaya Martínez
• Localización: CIENCIA ergo-sum, ISSN 1405-0269, Vol. 9, Nº. 1, 2002, págs. 91-99
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Rigorous DIffraction of an Electromagnetic Beam by Multiples Slits
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    En este trabajo presentamos una teoria rigurosa modal de la difracción de un haz electromagnético gaussiano TE polarizado que incide normalmente sobre un sistema formado por N rendijas excavadas en una pantalla infinitamente conductora e infinitamente delgada.  Se analiza numéricamente el espectro de difracción como función del número de rendijas dentro de las regiones escalar (A./f<0.2) y vectorial (X/f>0.2). Además, mostramos que la teoria de Huygens-Fresnel para este sistema tiene ciertas limitaciones cuando la longitudde onda es del orden del ancho de las rendijas. Finalmente, analizamos la incidencia de algunos parámetros optogeométricos en el patrón de difracción en el coeficiente de transmisión.

  • English

    This paper studies the rigorous diftraccion of an eleciromagnetic gaussianbeam by N slits in a perfectly thin conducting screen (line finite grating ofpcriod D). The TE; polarizaritm case is considered, i.e. when the electric field isparallel to the slits.The evolution of the diffraction pattern in far-field as a function of the number of slits and the wavelength is analyazed. We show that Huygens-Fresnel´s classical theory cannot predict some features on the spectrum when the wavelength lies in the vectorial región.  Finally, the transmission coefficient and the spectrum are studied as a function of several optogeometrical parameters.