Sistema de microscopía de fuerza atómica basada en una unidad de lectura óptica digital y un escáner-zumbador

• Autores: Reza Dabirian, Wei-Min Wang, David Loza Matovelle, En-Te Hwu
• Localización: Revista Mexicana de Física, ISSN-e 0035-001X, Vol. 61, Nº. 4, 2015, págs. 238-244
• Idioma: español
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• Resumen
  • español

    En este artículo se presenta un sistema de detección astigmático (ADS), basada en una unidad de lectura óptica digital (OPU) del disco compacto (CD/DVD). Este sistema de detección astigmático puede alcanzar una resolución mejor que 0.3 nm en la detección del desplazamiento vertical y se puede detectar la inclinación angular de dos dimensiones de la superficie del objeto. También, se ha presentado un novedoso diseño para un escáner-zumbador. El escáner se compone de una estructura de accionamiento de cuatro-barras y varios zumbadores piezoeléctricos de disco. El escáner-zumbador se puede accionar con voltajes bajos como los de las tarjetas de adquisición de datos (DAQ) y permite un alcance de barrido suficiente de hasta 15 "micro"m. Por lo tanto, el costo de construir un AFM puede reducirse significativamente juntando las dos técnicas. A partir de las dos técnicas anteriores, se construyó un AFM económico de alto rendimiento, utilizando el escáner-zumbador para mover la muestra y un OPU para detectar la resonancia mecánica de un cantiléver microfabricado. Evaluamos el desempeño del AFM. La alta sensibilidad y gran ancho de banda del sistema de detección hace que el equipo sea apropiado para la caracterización de elementos a escala nanométrica. UN AFM usando nuestro sistema de detección para detectar la deflexión del cantiléver micrtofabricado, puede resolver pasos atómicos individuales en superficies de grafito.

  • English

    An astigmatic detection system (ADS) based on a compact disk/digital-versatile-disk (CD/DVD) astigmatic optical pickup unit (OPU) is presented. It can achieve a resolution better than 0.3 nm in detection of the vertical displacement and is able to detect the two-dimensional angular tilt of the object surface. Furthermore, a novel scanner design actuated by piezoelectric disks. It can be driven directly with low-voltage and low-current sources, such as analogue outputs of a data acquisition (DAQ) card and enables a sufficient scanning range of up to 15 "nano"m. In addition, an economic, high-performance streamlined atomic force microscope (AFM) was constructed, using the buzzer-scanner to move the sample relative to the probe, and using a CD/DVD OPU to detect the mechanical resonance of a microfabricated cantilever. The performance of the AFM is evaluated. The high sensitivity and high bandwidth of the detection system makes the eqipment suitable for characterizing nanoscale elements. An AFM using our detection system for detecting the deflection of microfabricated cantilevers can resolve individual atomic steps on graphite surfaces.