Revista Mexicana de Física

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  Año 2015, Vol. 61, Número 4

  • Sistema de microscopía de fuerza atómica basada en una unidad de lectura óptica digital y un escáner-zumbador

    Reza Dabirian, Wei-Min Wang, David Loza Matovelle, En-Te Hwu

    • Resumen

    págs. 238-244

    

  • Refractive index expressions for Ga_(1-x)In_(x)As, GaAs_(1-x)N_(x) and Ga_(a-x)In_(x)N_(y)As_(1-y) alloys

    J.A. Martín, M. Sánchez

    • Resumen

    págs. 245-253

    

  • Microestructura, propagación y emisión acústica de grietas en dos papeles de celulosa

    D. Aguirre, J. Aldaco, M. Hinojosa

    • Resumen

    págs. 254-260

    

  • Fractional viscoelastic models applied to biomechanical constitutive equations

    J.E. Palomares-Ruiz, Melchor Rodríguez Madrigal, J.G. Castro Lugo, A.A. Rodríguez-Soto

    págs. 261-267

    

  • The Liouville theorem as a problem of common eigenfunctions

    Gerardo Francisco Torres del Castillo

    • Resumen

    págs. 268-271

    

  • La extinción primaria y el factor etático de Debye-Waller en la caracterización de níquel con textura mediante difracción de rayos X

    T. Kryshtab, A. Cadena Arenas, A. Kryvko, Jesús Palacios Gómez

    • Resumen

    págs. 272-280

    

  • Simple algebraic method to study the effects of hydrostatic pressure on the fundamental parameters of a Schottky barrier of metal/n-GaAs

    O. Oubram, L.M. Gaggero Sager, I. Rodríguez Vargas

    • Resumen

    págs. 281-286

    

  • Anomalous photon emissiosn from a solid

    Boris I. Ivlev

    • Resumen

    págs. 287-295

    

  • Contributions to the defocusing effect on pole figure measurements by X-ray diffraction

    Jesús Palacios Gómez, Ramón Sebastián Salat Figols, A. Jiménez Jiménez, T. Kryshtab

    • Resumen

    págs. 296-300

    

  • Método de lente térmica resuleta en frecuencia para medir coeficientes de difusión térmica en muestras líquidas

    Luis G. Rodríguez, L.P. Cantini, E. Granizo, D.P. Guanga, A. Díaz-Barrios, A. Debut, J.L. Paz, Cesar Costa Vera

    • Resumen

    págs. 301-306

    

  • Evaluación de la resolución frecuencial en osciloscopios comerciales

    C. Stern Forgach, J.M. Alvarado Reyes

    • Resumen

    págs. 307-311

    

  • Optical and structural properties of CdS:Pb^(2+) nanocrystals

    R. Gutiérrez Pérez, O. Portillo Moreno, M. Chávez Portillo, H. Juárez, M. Pacio, L.A. Chaltel Lima, M. Zamora, M. Lazcano, C. Rubio, G. Hernández Téllez

    • Resumen

    págs. 312-322