Failure of electrical vias manufactured in thick-film technology when loaded with short high current pulses

• Autores: D. Ortolino, J. Kita, K. Beart, R. Wurm, S. Kleinewig, A. Pletsch, R. Moos
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 121-128
• Idioma: inglés
• Enlaces
  • Texto completo