The role of electronic energy loss in SHI irradiated Ni/oxide/n-GaP Schottky diode

• Autores: N. Shiwakoti, A. Bobby, K. Asokan, Bobby Antony
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 40-46
• Idioma: inglés
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