Aging comparative analysis of high-performance FinFET and CMOS flip-flops

• Autores: Shiva Taghipour, Rahebeh Niaraki Asli
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 52-59
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)