Desarrollo de un sistema de test para circuitos integrados analógico-digitales

• Autores: Joan Oliver Malagelada, N. Fàbregas, A. Álvarez, Carles Ferrer, M. Rullán
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 359-364
• Idioma: español
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• Resumen

  • En este circuito presentamos la evoluciónde un sistema de test para circuitos integrados digitales basado en el sistema para prototipos Tektronix LV500 hacia un sistema de test de bajo coste para circuitos digitales, analógicos y analógico-digitales. El objetivo principal del sistema es facilitar el test de los prototipos a los diseñadores. Debemos apuntar, sin embargo, que aún está en fase de puesta en marcha y por lo tanto tiene cierto carácter provisional.