Aplicación del espectro de Reed-Muller a la generación de patrones de test

• Autores: Julio Ortega Lopera, Antonio Lloris Ruiz, Alberto Prieto Espinosa, Francisco José Pelayo Valle
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 453-458
• Idioma: español
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• Resumen

  • Recientemente se ha propuesto el uso del espectro de Reed-Muller en el test de circuitos digitales, a partir de los cambios en los coeficientes espectrales inducidos por las correspondientes faltas. En el presente trabajo se describe un procedimiento de generación de patrones de test para las faltas de anclaje (stuck-at) que utiliza una heurística basada en la transformación de Reed-Muller. El procedimiento hace posible la selección de patrones sin que se precise conocer el efecto exacto de cada falta en el espectro de la función. Se acompaña el trabajo con algunos ejemplos entre los que se encuentra la aplicación a la ALU 74181.