Diseño de un multiplicador de Baugh Wooley C-Testable

• Autores: A. Rodero, D. Casanueva, María de Mar Martínez Solórzano, Salvador Bracho
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 525-526
• Idioma: español
• Texto completo no disponible (Saber más ...)
• Resumen

  • Los avances desarrollados en la industria de semiconductores en los últimos años han hecho posible la realización de circuitos digitales con un gran número de dispositivos en un solo chip. De esta forma a medida que ha aumentado la complejidad de estos circuitos VLSI su verificación se ha vuelto más costosa y difícil.

    Los multiplicadores en matrices celulares debido a su estructura regular e iterativa, se pueden diseñar de forma que sean fácilmente testables.