En este artículo se presenta una técnica DFT para el test off-line de filtros analógicos. Esta nueva estrategia consiste en alterar el funcionamiento del filtro cuando está fuera de su operación normal y generar una señal de error que contiene información acerca de los parámetros que gobiernan su comportamiento. Dicha señal de error puede ser fácilmente procesada on-chip por una circuitería adicional simple.
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