Special issue: International conference on thermal, mechanical & multiphysics simulation and experiments in micro- and nano-electronics and systems [EuroSimE2017]

• Autores: W.D. van Driel, Artur Wymysłowski
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 321-321
• Idioma: inglés
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