Resumen de Caracterización óptica de películas delgadas de Ge40Se60 amorfo a partir de medidas de transmisión.
Juan Manuel Gonzalez Leal, E. Márquez, I. Cartes Vélez, Carlos López Cartes, E. López Cartes, Manuel Jesus Romero Florez, Rafael Jiménez Garay
El presente trabajo recoge el estudio de las constantes ópticas de dos películas de Ge40 Se40 preparadas por evaporación térmica, en el rango espectral comprendido entre 300 y 2.000 nm, haciendo uso de las franjas del espectro de transmisión del sistema película-sustrato. La determinación del índice de refracción, del espesor de la película y del coeficiente de absorción se hace siguiendo el método de Swanepoel. La dispersión del índice de refracción se explica según el modelo del oscilador simple de Wemple-DiDomenico. El borde de absorción se estudia según el modelo propuesto por Tauc, a partir del cual se obtiene el valor del gap óptico.
