Delay defect diagnosis based upon a statistical timing model - the first step

• Autores: L.-C. Wang, K.-T. Cheng, A. Krstic
• Localización: IEE Proceedings: Computers and digital techniques, ISSN 1350-2387, Vol. 150, Nº 5, 2003, págs. 346-354
• Idioma: inglés
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