A Method for the Determination of a Distributed FET Noise Model Based on Matched-Source Noise-Figure Measurements

• Autores: M. C. Maya, Antonio Lázaro Guillén, L. Pradell
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 41, Nº. 3, 2004, págs. 221-225
• Idioma: inglés
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