Periodo de publicación recogido
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L. Pradell, Antonio Lázaro Guillén, M. C. Maya
Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 48, Nº. 7, 2006, págs. 1372-1379
Noise Model of a Reverse-Biased Cold-FET Applied to the Characterization of its ENR
L. Pradell, M. C. Maya, Antonio Lázaro Guillén
Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 40, Nº. 4, 2004, págs. 326-330
M. C. Maya, Antonio Lázaro Guillén, L. Pradell
Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 41, Nº. 3, 2004, págs. 221-225
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