Noise Model of a Reverse-Biased Cold-FET Applied to the Characterization of its ENR

• Autores: L. Pradell, M. C. Maya, Antonio Lázaro Guillén
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 40, Nº. 4, 2004, págs. 326-330
• Idioma: inglés
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