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Improved convergence in the analysis of thin metallic gratings with thickness profiles (DOI 10.1029/2002RS002816)
Autores:
H. Wakabayashi
Localización:
Radio science
,
ISSN
0048-6604,
Nº. 6, 2003
,
pág.
8
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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