Espectroscopía de Fotocorriente aplicada a Películas Delgadas de Semiconductores: CDS

• Azuero, Pedro ^[1] ; Castillo Ocaña, Guido ^[1] ; Valera Palacios, Aníbal ^[1]
  1. [1] Universidad Nacional de Ingeniería

     Universidad Nacional de Ingeniería

     Perú

     
• Localización: TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 11, Nº. 2, 2001, págs. 13-21
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Photocurrent Spectroscopy Applied to Semiconductor Thin Films: CDS
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  • Texto completo
• Resumen
  • español

    En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso especifico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en si complementarios y confirman, que los niveles de energía más relevantes en CdS, desde el punto de vista fotoeléctrico, corresponden a los valores: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 y 2,60 eV

  • English

    In this work, we present results of spectral photocurrent measurements in the quantitative diagnostic of semiconductors, in the specific case of cadmium sulfide (CdS) thin films. We present three measurement modalities. The results are each other complementary and confirms, thatthe most relevant energy levels in CdS, from the photoelectric point of view, correspond to the values: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 and 2,60 eV