Periodo de publicación recogido
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Cristales orgánicos láser: Antraceno
Aníbal Valera Palacios, Miguel Melchor Vivanco, Miguel Ángel Mosquera Molina
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 19, Nº. 1, 2009, págs. 13-21
Detección de vibraciones en edificios aplicación de respuesta de fotodeflexión
Aníbal Valera Palacios, Edward Romero, José Florindez
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 18, Nº. 1, 2008, págs. 21-28
Evaluación de vibraciones en estructuras usando un método óptico no convencional
Aníbal Valera Palacios, Arturo Ortiz
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 17, Nº. 2, 2007, págs. 47-54
Elaboración y caracterización física de películas delgadas de diamante
Aníbal Valera Palacios, Edward Ramos
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 17, Nº. 1, 2007, págs. 79-85
Aníbal Valera Palacios, Marco Valentin Siu
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 15, Nº. 2, 2005, págs. 5-11
Discutiendo Física en base a un antiguo concepto: La Red Etérea
Aníbal Valera Palacios
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 15, Nº. 1, 2005, págs. 23-29
Efecto de guías ópticas planas en películas semiconductoras de Sulfuro de Cadmio: CDS
Aníbal Valera Palacios, Dane Cachi, Mauro Matías Lomer Barboza
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 12, Nº. 1, 2002, págs. 95-104
Espectroscopía de Fotocorriente aplicada a Películas Delgadas de Semiconductores: CDS
Pedro Azuero, Guido Castillo Ocaña, Aníbal Valera Palacios
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 11, Nº. 2, 2001, págs. 13-21
Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5
Sandro Rodríguez, Osar Miculicich Egoavil, Christian Oliva Chirinos, Arturo Fiorentini, Aníbal Valera Palacios
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 11, Nº. 1, 2001
Celdas Solares de películas delgadas en base a Óxidos Semiconductores: Ti3O5, Bi2O0
Sandro Rodríguez, Luis Gutiérrez Rivera, Guido Castillo Ocaña, Cesar Maldonado, Aníbal Valera Palacios
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 10, Nº. 2, 2000, págs. 49-56
Sistema automatizado de detección de modos de propagación de guías ópticas
Guido Castillo Ocaña, Rodoy Ramos, Carlos Loayza, Enver Fernández Chillcce, Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Aníbal Valera Palacios, Mauro Matías Lomer Barboza
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 2, 1999, págs. 47-51
Mediciones espectrales Fotoacústicas(pas) de películas semiconductoras de Silicio Amorfo
Enver Fernández Chillcce, Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Aníbal Valera Palacios, Guido Castillo Ocaña, Mauro Matías Lomer Barboza
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 2, 1999, págs. 47-51
Óptica integrada: Elaboración y caracterización de guías de onda planas
Luis Mosquera, Jorge León, Rodoy Ramos, Enver Fernández Chillcce, Hernán Soldevilla, Guido Castillo Ocaña, Aníbal Valera Palacios, Mauro Matías Lomer Barboza
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 1, 1999, págs. 25-29
Caracterización de células fotovoltaicas por medidas de fotocorriente espectral
Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Aníbal Valera Palacios, Dominik Essing
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 1, 1999, págs. 31-35
Elaboración y caracterización física de películas semiconductoras de silicio amorfo
Enver Fernández Chillcce, Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Aníbal Valera Palacios
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 1, 1999, págs. 69-79
Aplicaciones ópticas en la metrología
Aníbal Valera Palacios, Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Luis Palacios, Rodoy Ramos, Luis Mosquera
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 1, 1998, págs. 63-67
Efecto de campo magnético en el tratamiento de aguas duras
Mery Zavaleta, Aníbal Valera Palacios, Enrique Rivas, Atilio Mendoza, Soledad Tinoco
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 1, 1998, págs. 69-76
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