Periodo de publicación recogido
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Sistema automatizado de detección de modos de propagación de guías ópticas
Guido Castillo Ocaña, Rodoy Ramos, Carlos Loayza, Enver Fernández Chillcce, Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Aníbal Valera Palacios, Mauro Matías Lomer Barboza
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 2, 1999, págs. 47-51
Mediciones espectrales Fotoacústicas(pas) de películas semiconductoras de Silicio Amorfo
Enver Fernández Chillcce, Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Aníbal Valera Palacios, Guido Castillo Ocaña, Mauro Matías Lomer Barboza
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 2, 1999, págs. 47-51
Caracterización de células fotovoltaicas por medidas de fotocorriente espectral
Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Aníbal Valera Palacios, Dominik Essing
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 1, 1999, págs. 31-35
Elaboración y caracterización física de películas semiconductoras de silicio amorfo
Enver Fernández Chillcce, Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Aníbal Valera Palacios
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 1, 1999, págs. 69-79
Aplicaciones ópticas en la metrología
Aníbal Valera Palacios, Carmen Eyzaguirre Gorvenia, Luis Palacios, Rodoy Ramos, Luis Mosquera
TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 9, Nº. 1, 1998, págs. 63-67
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