Intrinsic spatial resolution of semiconductor X-ray detectors: a simulation study

• Autores: M. Hoheisel, J. Giersch, P. Bernhardt
• Localización: Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, ISSN 0168-9002, Vol. 531, Nº. 1, 2004, págs. 75-81
• Idioma: inglés
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