Robert W. Carpick

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • The strong effect on MEMS switch reliability of film deposition conditions and electrode geometry

    Changho Oh, Charles B. Stovall, Wassim Dhaouadi, Robert W. Carpick, Maarten P. de Boer

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 98, 2019, págs. 131-143

    • Resumen
    

  • Phase imaging and the lever-sample tilt angle in dynamic atomic force microscopy

    Robert W. Carpick, Matthew J. D'Amato, Matthew S. Marcus, Mark A. Eriksson

    Applied physics letters, ISSN 0003-6951, Vol. 85, Nº. 20, 2004, págs. 4738-4740

    

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