Jianjun Chen

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • Angular dependency on heavy-ion-induced single-event multiple transients (SEMT) in 65 nm twin-well and triple-well CMOS technology

    Jizuo Zhang, Jianjun Chen, Pengcheng Huang, Shouping Li, Liang Fang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-2, 2018, págs. 278-282

    • Resumen
    

  • Research on the effect of single-event transient of an on-chip linear voltage regulator fabricated on 130 nm commercial CMOS technology

    QiFeng Zhao, GuoQing Yang, YongJie Sun, PeiFu Yu, Jianjun Chen, Bin Liang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 73, 2017, págs. 116-121

    • Resumen
    

  • Integrated pedagogy for specialty courses in chinese engineering education

    Jinsong Tao, Stephen C. Mcclure, Jianjun Chen, Tingxin Song, Xishan Wen

    The International journal of engineering education, ISSN-e 0949-149X, Vol. 32, no. Extra 5 (Parte B), 2016 (Ejemplar dedicado a: Engineering Education for All), págs. 2184-2193

    • Resumen
    

  • Optimization under Variability and Uncertainty: A Case Study for NO_x Emissions Control for a Gasification System

    H. Christopher Erey, Jianjun Chen

    Environmental science & technology, ISSN 0013-936X, Nº. 24, 2004, págs. 6741-6747

    

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