Periodo de publicación recogido
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Radiation induced transconductance overshoot in the 130 nm partially-depleted SOI MOSFETs
Chao Peng, Yunfei En, Zhengxuan Zhang, Yuan Liu, Zhifeng Lei
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 135-141
Reply to `Comments on a theoretical study of the Gasarite eutectic growth¿
Yanxiang Li, Yuan Liu
Scripta materialia, ISSN 1359-6462, Vol. 52, Nº. 8, 2005, págs. 803-807
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