Periodo de publicación recogido
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A Statistical Framework for Improved Automatic Flaw Detection in Nondestructive Evaluation Images.
Ye Tian, Ranjan Maitra, William Q. Meeker, Stephen D. Holland
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 59, Nº. 2, 2017, págs. 247-261
Numerical Issues in Statistical Computing for the Social Scientist
Ranjan Maitra
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Nº. 2, 2005, págs. 241-242
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