InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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Characteristics and reliability of VDMOS under capacitive loads
Yulong Zhang, Lulu Wang, Xueqin Gong, Bo Gao, Lixin Wang, Jiajun Luo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 93, 2019, págs. 8-15
The effects of finite metallisation thickness and conductivity in microstrip lines
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 32, Nº 2 (Special Issue: CAC 2010), 2013, págs. 495-503
Bo Gao, Ling Tong
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 29, Nº 2 (Special Issue: Selected papers from CAC 2008), 2010, págs. 536-544
Prediction of concrete cover separation failure for RC beams strengthened with CFRP strips
Christopher K.Y. Leung, Jang-Kyo Kim, Bo Gao
Engineering structures: The journal of earthquake, wind and ocean engineering, ISSN 0141-0296, Nº. 2, 2005, págs. 177-189
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