Periodo de publicación recogido
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Charge trapping related channel modulation instability in P-GaN gate HEMTs
Xueyang Li, Gang Xie, Cen Tang, Kuang Sheng
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 35-40
Risk avoidance in bidding for software projects based on life cycle management theory
Jinlong Zhang, K. K. Lai, Gang Xie
International journal of project management, ISSN 0263-7863, Vol. 24, Nº 6, 2006, págs. 516-521
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